Bu çalıĢmada, kristal yapıların X-ıĢınları kırınımı ile incelenmesi ve elde edilen
parametrelerin iyileĢtirilmesi süreci araĢtırılmıĢtır. ÇalıĢmanın baĢlangıcında
Kristalografi hakkında genel bilgiler verilmiĢ ve daha sonra parametrelerin
iyileĢtirme adımlarının araĢtırılması yapılmıĢtır. Elektron yoğunluğu haritalarının
çıkarılması ile atom konumlarının yerlerinin nasıl bulunduğu incelenmiĢtir. En
Küçük Kareler Yöntemi ile atomik parametrelerin uygun değerlere getirilmesi süreci
hakkında bilgi verilmiĢtir.
Crystal structure analysis by X- Ray diffraction method was studied in this thesis.
Corrections of some datas from diffraction pattern were looked into. Initially some
general information about Crystallography was given and then refinement of the
parameters was studied. The search for obtaining Electron Density Map was done.
And observation of the atomic positions in the model was studied. For fitting the
parameters, The Least Square Method was searched.
